老化 (Burn in) 是指采用高溫方法對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力，而環(huán)境應(yīng)力篩選 (ESS: Environment Stress Screen) 則不僅包括高溫應(yīng)力，還包括其他很多應(yīng)力，例如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動(dòng)等，如圖所示。所以，老化是屬于環(huán)境應(yīng)力篩選的一種。但現(xiàn)在很多公司已經(jīng)把 “老化” 這個(gè)詞的意義擴(kuò)展了，老化就等同環(huán)境應(yīng)力篩選，環(huán)境應(yīng)力篩選俗稱為老化，我們就沿用 “老化” 這個(gè)詞。

電子產(chǎn)品為什么在出廠前一定要做到百分之百老化測(cè)試？

因?yàn)樵陔娮赢a(chǎn)品在生產(chǎn)加工過程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，將引入各種缺陷（即便設(shè)計(jì)再好的產(chǎn)品亦如此）。無論是生產(chǎn)工藝缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時(shí)可以使用，但在使用中缺陷會(huì)很快暴露出來，產(chǎn)品不能正常工作，例如焊錫不足，產(chǎn)品雖然可以用，但輕微振動(dòng)可能就會(huì)使焊點(diǎn)斷路。

明顯缺陷可通過常規(guī)檢驗(yàn)手段（即ICT：在線測(cè)試，In-Circuit Test，是通過對(duì)在線元器件（制成板上的元器件）的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)、FT等）加以發(fā)現(xiàn)。潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn)，而是運(yùn)用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將最終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加。

電子產(chǎn)品出廠前老化的好處

電子產(chǎn)品在出廠前，嚴(yán)格做到百分之百老化測(cè)試，那么能很大程度的減少產(chǎn)品的不良率。其實(shí)，進(jìn)行老化測(cè)試還有一個(gè)更重要的目的（和測(cè)試一樣）：通過老化使產(chǎn)品加工工藝不斷改進(jìn)，使元器件品質(zhì)不斷改進(jìn)，改進(jìn)到不需要老化為止。電路板在老化以后一定要經(jīng)過測(cè)試，假如在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)某個(gè)元器件經(jīng)常損壞，則說明該器件有潛在缺陷，需要供應(yīng)商改進(jìn)品質(zhì)。